シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
資料タイプ | 図書 |
---|---|
出版者 | 東京 : 早稲田大学出版部 |
出版年 | 1991.4 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | 313p ; 22cm |
所蔵情報を非表示
閲覧票 |
巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
教育図:19階書庫1 | 370.02||15 | 951406408 |
|
書誌詳細を非表示
一般注記 | 文献:p301~309 |
---|---|
著者標目 | *竹谷, 誠(1941-) <タケヤ, マコト> |
件 名 | BSH:教育評価 |
分 類 | NDC8:371.7 NDC7:371.8 NDLC:FC63 |
書誌ID | BB00003218 |
ISBN | 4657914162 |
NCID | BN06351080 |