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New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing / edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]

資料タイプ 図書
出版者 New York : Academic Press
出版年 1983
本文言語 英語
大きさ xvii, 345 p. : ill. ; 24 cm

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教育図:19階書庫2 151.22||26 012402287

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一般注記 Derived from the 1979 Computerized Adaptive Testing Conference held at Wayzata, Minn., sponsored by the U.S. Office of Naval Research, et al
Includes bibliographies and indexes
著者標目 Weiss, David J.
Bock, R. Darrell
Computerized Adaptive Testing Conference Wayzata, Minn., 1979
United States. Office of Naval Research
件 名 LCSH:Psychological tests -- Congresses  全ての件名で検索
分 類 LCC:BF176
DC19:153.9/3
書誌ID BB00031096
ISBN 0127427805
NCID BA00680204

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