Mendeley出力
New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing / edited by David J. Weiss ; contributors, R. Darrell Bock ... [et al.]
| 資料タイプ | 図書 |
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| 出版情報 | New York : Academic Press , 1983 |
| 本文言語 | 英語 |
| 大きさ | xvii, 345 p. : ill. ; 24 cm |
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巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
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教育図:19階書庫2 | 151.22||26 | 012402287 |
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| 一般注記 | Derived from the 1979 Computerized Adaptive Testing Conference held at Wayzata, Minn., sponsored by the U.S. Office of Naval Research, et al Includes bibliographies and indexes |
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| 著者標目 | Weiss, David J. Bock, R. Darrell Computerized Adaptive Testing Conference Wayzata, Minn., 1979 United States. Office of Naval Research |
| 件 名 | LCSH:Psychological tests -- Congresses 全ての件名で検索 |
| 分 類 | LCC:BF176 DC19:153.9/3 |
| 書誌ID | BB00031096 |
| ISBN | 0127427805 |
| NCID | BA00680204 |