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ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳

資料タイプ 図書
出版情報 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
本文言語 日本語
大きさ viii, 223p ; 21cm

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教育図:19階書庫1 371.7||78 400061001

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別書名 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
著者標目  Gergen, Kenneth J.
Gill, Scherto R
 東村, 知子 <ヒガシムラ, トモコ>
 鮫島, 輝美 <サメシマ, テルミ>
件 名 BSH:教育評価
分 類 NDC9:371.7
NDC10:371.7
書誌ID BB00532830
ISBN 9784779517044
NCID BD00745593

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