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IEEE ノ カンファレンス ト カンコウブツ ニ カンスル ソウゴウテキ ブンセキ : セイチョウ ゲキヘンスル セカイ ノ デンキ デンシ ジョウホウ ツウシン ケンキュウ ト ニホン
IEEEのカンファレンスと刊行物に関する総合的分析 : 成長・激変する世界の電気電子・情報通信研究と日本 / 白川展之, 古川貴雄, 野村稔, 奥和田久美[著]
(調査資料 ; 194)
| 資料タイプ | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | [東京] : 文部科学省科学技術政策研究所科学技術動向研究センター |
| 出版年 | 2011.6 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | xi, 154p ; 30cm |
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巻号 | 配架場所 | 請求記号 | 資料ID | 状態 | コメント | 貸出中予約 | 取 置 予 約 |
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文科図:開架_科政研 | MX_NIS||C1||194 | 021071882 |
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| 別書名 | その他のタイトル:An extensive quantitative analysis of IEEE publications : globalization of electrical and electronics engineering research |
|---|---|
| 著者標目 | 白川, 展之 <シラカワ, ノブユキ> 古川, 貴雄 <フルカワ, タカオ> 野村, 稔 <ノムラ, ミノル> 奥和田, 久美 <オクワダ, クミ> |
| 件 名 | NDLSH:電気工学 NDLSH:研究開発 NDLSH:計量書誌学 NDLSH:Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 分 類 | NDLC:ND21 NDC9:540 |
| 書誌ID | BB80054097 |