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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳 OT Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education A1 Gergen, Kenneth J. A1 Gill, Scherto R A1 東村, 知子 A1 鮫島, 輝美 YR 2023 FD 2023.3 SP viii, 223p K1 教育評価 PB ナカニシヤ出版 PP 京都 SN 9784779517044 LA Japanese (日本語) CL NDC9:371.7 CL NDC10:371.7 NO 書誌ID=BB00532830; NCID=BD00745593; LK [OPAC]https://nieropac.nier.go.jp/opac/opac_link/bibid/BB00532830 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BD00745593; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=9784779517044 OL 58